侧向层析检测(LFT)解决方案设计简单，能够以经济高效的方式实现大批量生产，从而得到广泛应用，LFT紧凌小巧、便于携带且易于使用。其缺点包括灵敏度限制、信号量化困难以及多分析物检测。近年来，一些技术试图采用数字读出器来克服其中一些缺点，其他一些技术则采用(台式)读卡器系统，有时候还结合劳光测量等读出方法。艾迈斯半导体决心在该市场领域实现创新，推出了能够提高LFT性能的经济高效的小型专有光学撑块，这可以通过提高光学灵数度，允许进行多分析物检测并适应不同的光学测量方法(例如:反射和荧光测量)来实现。
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