深度解析：SDK中贴片SD卡Flash读写速度测试流程与结果-EE芯视频

在SDK中，首先新建一个空白工程，点击file -> new -> Application project。在新建过程中，创建一个main.c文件并编写测试程序。测试程序包括初始化TimerA0，以及通过TimerA0_start和TimerA0_stop函数测量SD卡读写操作的时间。相关的Timer驱动函数在user/TimerA_user.c中定义。程序中还包含了SD设备驱动、文件系统操作等头文件。在main.c中，定义了文件对象、文件系统、文件名等变量，并编写了SDCard_test函数进行读写测试。该函数首先格式化SD卡，然后创建并打开一个测试文件，接着进行多次读写操作，每次操作前后都通过TimerA0计时。程序还计算并打印了每次读写操作的速度。测试结果显示，两种型号的SD NAND芯片的读写速度随着数据量的增加而增加，且读速率大于写速率。同时，对比发现CSNP32GCR01-AOW型号具有更高的读写速度。虽然原本计划探索这些芯片在信息安全领域的应用，但由于芯片内置复位或初始化功能，无法提取其物理不可克隆特性，因此这方面的测试无法进行。不过，对于芯片正常读写的测试结果仍然令人满意。